ペントロン

東4ホール 4A-06 検査機

　表面形状の測定方法、デジタルホログラフィを利用した3D測定装置など様々な特許の技術をもとに独自の3D測定技術、
　 3D表現技術、3D検査技術を持っています。これにより、世界最高レベルの3D測定と検査技術に基づいて、影の干渉に
　よる死角地帯を最小化し、誤報を著しく減らしながらも完璧に近い検出力を確保しています。

製品・サービス

　　(株)ペントロンは、 3次元精密測定Vision源泉技術をもとに、 SMT、自動車電装、
　二次電池、半導体など様々な分野に使用される半田付け検査装備 (3D SPI)、 3次元
　実装検査装備(3D AOI/MOI)、 Wafer Bump 3D検査装備、 Wire Bonding 3D検査
　装備、二次電池リードタップ工程検査装備を開発し供給しております。　
　　また、世界最高レベルの3D測定と検査技術をもとに、 Conformalコーティング検
　査機 (CI)、 Press fit Pin検査機、両面検査機、チップカウンター、半導体PKG検査
　装備など、市場が必要とする新規装備を発売しております。　
　　数年間蓄積された3D測定と検査技術に基づいた差別的な3D形状化を実現し、
　スマホ、航空、医療、通信、 EMSなど世界の様々な分野で使われています。

　【[AOI] ATHENA （写真）】
　・高い3D技術力
　・プロジェクションの追加設置による安定し正確な3D実現
　・稠密な部品と狭いポイントの間のチップの3D形成
　・実物と同じ3Dイメージ
　・正確な3D検査により、再現性の信頼性が向上
　・テレセントリックレンズにより、より高い精度と検出が可能
　・使いやすいGUI
　・内蔵ライブラリ管理システム

詳細情報はこちら

http://www.pentron.co.jp/

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