ペントロン
表面形状の測定方法、デジタルホログラフィを利用した3D測定装置など様々な特許の技術をもとに独自の3D測定技術、
3D表現技術、3D検査技術を持っています。これにより、世界最高レベルの3D測定と検査技術に基づいて、影の干渉に
よる死角地帯を最小化し、誤報を著しく減らしながらも完璧に近い検出力を確保しています。
3D表現技術、3D検査技術を持っています。これにより、世界最高レベルの3D測定と検査技術に基づいて、影の干渉に
よる死角地帯を最小化し、誤報を著しく減らしながらも完璧に近い検出力を確保しています。
製品・サービス
(株)ペントロンは、 3次元精密測定Vision源泉技術をもとに、 SMT、 自動車電装、
二次電池、 半導体など様々な分野に使用される半田付け検査装備 (3D SPI)、 3次元
実装検査装備(3D AOI/MOI)、 Wafer Bump 3D検査装備、 Wire Bonding 3D検査
装備、 二次電池リードタップ工程検査装備を開発し供給しております。
また、 世界最高レベルの3D測定と検査技術をもとに、 Conformalコーティング検
査機 (CI)、 Press fit Pin検査機、 両面検査機、 チップカウンター、 半導体PKG検査
装備など、 市場が必要とする新規装備を発売しております。
数年間蓄積された3D測定と検査技術に基づいた差別的な3D形状化を実現し、
スマホ、 航空、 医療、 通信、 EMSなど世界の様々な分野で使われています。
【[AOI] ATHENA （写真）】
・ 高い3D技術力
・ プロジェクションの追加設置による安定し正確な3D実現
・ 稠密な部品と狭いポイントの間のチップの3D形成
・ 実物と同じ3Dイメージ
・ 正確な3D検査により、再現性の信頼性が向上
・ テレセントリックレンズにより、より高い精度と検出が可能
・ 使いやすいGUI
・ 内蔵ライブラリ管理システム